Poids de l’Open access dans la production CNRS
Home
Resources
Graphs
Search
Export
Sign in
Titre
ToF-SIMS Depth Profiling of PS-b-PMMA Block Copolymers Using Ar-n(+), C-60(++), and Cs+ Sputtering Ions
XX
BSO - Titre
ToF-SIMS Depth Profiling of PS-b-PMMA Block Copolymers Using Arn+, C60++, and Cs+ Sputtering Ions
XX
DOI
DOI
10.1021/acs.analchem.7b00279
XX
DOAI
DOAI
10.1021/acs.analchem.7b00279
XX
Identifiant WoS
WOS:000405159000013
XX
Accès ouvert
OA - Non
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
XX
Editeur
ACS - American Chemical Society
XX
Source
ANALYTICAL CHEMISTRY
XX
ISSN
0003-2700
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
5 - Exceptionnelle
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INC - Institut de chimie
XX
uid:/36409FM3
12/10/2021 14:52:47 (latest)
Add field
Share/Export
Powered by
Lodex
9.6.0
